అప్లైడ్ సైన్స్ పరిశోధనలో పురోగతి అందరికి ప్రవేశం

నైరూప్య

Estimation of apparent fraction defective: A mathematical approach

D.V.Ramana, M.V.Ramanaiah, S.K. Khadar Babu*, K.Karthikeyan, B.Rajesh Anand

In this article, an attempt was made to estimate the apparent fraction defective when the inspection risks are unknown using Beta distribution of first kind truncated at point b. This study uses to identify the performance of sampling plans like single sampling plan and Double sampling plan.

నిరాకరణ: ఈ సారాంశం ఆర్టిఫిషియల్ ఇంటెలిజెన్స్ టూల్స్ ఉపయోగించి అనువదించబడింది మరియు ఇంకా సమీక్షించబడలేదు లేదా నిర్ధారించబడలేదు
ఈ పేజీని భాగస్వామ్యం చేయండి